Sichtbarmachung von Schichtverzerrungen bei der MRT-Sequenzplanung durch Modellierung von Gradienten-Nichtlinearitäten und B0-Inhomogenitäten

Sprache: German
Offengelegt von: Siemens AG
Autoren: Dr. Nicolas Groß-Weege, DE-Erlangen; Dr. David Grodzki, DE-Erlangen